數(shù)字電橋就是能夠測量電感，電容，電阻，阻抗的儀器，這是一個傳統(tǒng)習(xí)慣的說法，zui早的阻抗測量用的是真正的電橋方法，隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展，早已經(jīng)淘汰了這種測量方法，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數(shù)字電橋。一般用戶又稱這些為：LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、LCR Meter等等。
使用方法
1． 加電
首先將電源線帶IEC一端接到電橋左后方的IEC插座上，另一端插入合適的電源插座上，搬動電橋左后方的船形開關(guān)，即使電橋通電。通電后，顯示器、量程及功能指示器隨之變亮。電橋可自動置于電感、電容測量檔，并聯(lián)等效及1KHz頻率狀態(tài)。正常情況下，內(nèi)部電路加電幾秒鐘后即能穩(wěn)定，便可進(jìn)行測量。
2．被測元件的接入方法
⑴通常徑向引線的元件可直接插入組合測試夾夾板內(nèi)，而接入特殊柔性引線的元件時，應(yīng)借助夾板離合器進(jìn)行，該離合裝置位于測試夾的正下方。
⑵接入軸向引線元件時，為避免扭折引線，可采用軸向轉(zhuǎn)接頭，先把這兩個配件分別插入測試夾的兩端，再將其間距調(diào)正到適合元件測量的位置，然后便將軸向引線元件插入兩端的配件夾內(nèi)。
⑶在軸向轉(zhuǎn)接頭必需相當(dāng)牢固定的場合，如在測量大量的同類元件時，需采用支撐板。
安裝支撐板：首先把軸向轉(zhuǎn)接頭調(diào)整到適當(dāng)?shù)奈恢蒙?，然后將支撐板懸置于軸向轉(zhuǎn)接頭上方，讓每個軸向轉(zhuǎn)接頭穿過支撐板上的槽縫，放好支撐板，將固定螺釘對準(zhǔn)電橋面板上的螺孔，zui后上緊螺釘。注意：安裝時不易將螺釘擰得過緊。
注意：本電橋雖能夠?qū)Τ潆婋娙萁尤霚y試進(jìn)行防護(hù)，但應(yīng)將充電電容經(jīng)適當(dāng)電阻放電后才進(jìn)行測量。
3．使用中注意讀數(shù)及測量條件顯示
⑴儀器的6位顯示不一定全部是有效顯示，在某些測量中測量數(shù)據(jù)的未尾值可能跳動較大，應(yīng)舍去這些跳動數(shù)值，讀取其穩(wěn)定值。
(2)一般使用自動量程進(jìn)行測量，以保證選擇到正確的量程，操作到手動方式可以觀察實際工作量程。應(yīng)用于同批同種測量元件的批量測試時，可以選擇量程鎖定模式工作。
(3)串--并聯(lián)指示
雖然電橋具有顯示串聯(lián)或并聯(lián)等效值的選擇性，但在不利的Q值情況下，用上述兩種方式均不可能獲得基本準(zhǔn)確度。當(dāng)需要改動某一顯示方式以便提高基本準(zhǔn)確度時，電橋通過下標(biāo)s表示串聯(lián)，下標(biāo)p表示并聯(lián)。
(4)頻率提示
200μF～2000μF的電容，200H～2000H的電感，測量頻率在100Hz只能獲得基本準(zhǔn)確度。同樣，200pF～2nF的電容和200μH～2mH的電感，只有在1KHz測量頻率上才能獲得基本準(zhǔn)確度，因此獲得*測試性能，應(yīng)選擇zui合適的測試頻率。
(5)測試電平顯示
高K陶瓷電容或高導(dǎo)磁磁性電感器等，對測試信號電平的大小較為敏感，不同的測試電平會產(chǎn)生相異的測量結(jié)果。同時，測試電平越低，測量穩(wěn)定性越差。
4． 建議采用的測量條件參考表
表 測量條件參考
元件名稱 測量頻率 串--并聯(lián)
電容<1μF 1KHz 并聯(lián)
電容≥1μF(非電解電容) 100Hz 并聯(lián)
電容≥1μF（電解電容） 100Hz 串聯(lián)（SER）
電感<1H 1KHz 串聯(lián)（SER）
電感≥1H 100Hz 串聯(lián)（SHR）
電阻<10KΩ 100Hz 串聯(lián)（SHR）
電阻≥10KΩ 100Hz 并聯(lián)
當(dāng)電橋在100Hz和1KHz頻率上，能同時提供串聯(lián)和并聯(lián)等效元件值時建議：一定型號和數(shù)值的元件應(yīng)采用一定的方式進(jìn)行測量。這樣做是為了獲得既于元件的結(jié)構(gòu)形式，又于元件常用的工作方式的測量。如大容量的電解電容器，常作為電源波濾元件，測量時會發(fā)現(xiàn)，1KHZ頻率上的電容值明顯低于100Hz頻率上的電容值。這種現(xiàn)象是由于這類元件的幾何結(jié)構(gòu)有關(guān)諸因素所構(gòu)成。因此，電解電容在100Hz頻率上測量的電容值是zui有用的，電解電容的損耗項通常在串聯(lián)等效電阻（ESR）上顯示，因此，應(yīng)該測量其串聯(lián)電容和串聯(lián)電阻值。
更新時間：2015-09-21
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